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책소개
목차
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Preface.
Introduction. Theory of Light Emission in Semiconductors. Instrumentation Aspects of the Photon Emission Microscope. Backside Photon Emission Microscopy. Spectroscopic Photon Emission Microscopy. Photon Emission from Metal-Oxide-Semiconductor Field-Effect Transistors under Hot-Carrier Stressing. Photon Emission from Metal-Oxide-Semiconductor Field-Effect Transistors under High-Field Impulse Stressing. Oxide Degradation and Photon Emission from Metal-Oxide Semiconductor Capacitor Structures. Index. |
저자 소개
Wai Kin Chim is the author of Semiconductor Device and Failure Analysis : Using Photon Emission Microscopy , published by Wiley.
품목정보
- 발행일
- 2000년 01월 01일
- 쪽수, 무게, 크기
- 쪽수확인중 | 크기확인중
- ISBN13
- 9780471492405
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