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Frontiers in Electronic Testing
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[직수입양서]
Test Resource Partitioning for System-On-A-Chip
[
Hardcover
]
Iyengar, Vikram / Chandra, Anshuman
Springer
10
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167,040
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[직수입양서]
Soc (System-On-A-Chip) Testing for Plug and Play Test Automation
[
Hardcover
]
Chakrabarty, Krishnendu
Springer
10
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[직수입양서]
Wireless Communications: Future Directions
[
Hardcover, POD 주문제작도서
]
Holtzman, Jack M. / Goodman, David J.
Springer
5
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272,500
원
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[직수입양서]
Power-Constrained Testing of VLSI Circuits: A Guide to the IEEE 1149.4 Test Standard
[
Hardcover
]
Nicolici, Nicola / Al-Hashimi, Bashir M.
Springer
10
%
167,040
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[직수입양서]
Fault Injection Techniques and Tools for Embedded Systems Reliability Evaluation
[
Hardcover, POD 주문제작도서
]
Benso, Alfredo / Prinetto, Paolo
Springer
5
%
272,500
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[직수입양서]
Elements of Stil: Principles and Applications of IEEE Std. 1450
[
Hardcover, POD 주문제작도서
]
Maston, Gregory A. / Taylor, Tony R. / Villar, Julie N.
Springer
5
%
272,500
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[직수입양서]
Verification by Error Modeling: Using Testing Techniques in Hardware Verification
[
Hardcover
]
Radecka, Katarzyna / Zilic, Zeljko
Springer
10
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167,040
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[직수입양서]
Testing Static Random Access Memories: Defects, Fault Models and Test Patterns
[
Hardcover
]
Hamdioui, Said
Springer
10
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273,350
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[직수입양서]
CMOS Wireless Transceiver Design
[
Hardcover, POD 주문제작도서
]
Crols, Jan / Steyaert, Michiel
Springer
5
%
272,500
원
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[직수입양서]
High Performance Memory Testing: Design Principles, Fault Modeling and Self-Test
[
Hardcover, POD 주문제작도서
]
Adams, R. Dean
Springer
5
%
272,500
원
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[직수입양서]
A Designer's Guide to Built-In Self-Test
[
Hardcover
]
Stroud, Charles E.
Springer
10
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334,100
원
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16,710원
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[직수입양서]
Design for At-Speed Test, Diagnosis and Measurement
[
Hardcover, POD 주문제작도서
]
Nadeau-Dostie, Benoit
Springer
5
%
272,500
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[직수입양서]
Formal Equivalence Checking and Design Debugging
[
Hardcover
]
Shi-Yu Huang / Kwang-Ting (Tim) Cheng
Springer
10
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303,730
원
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15,190원
Hardcover
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[직수입양서]
Database Issues in Geographic Information Systems
[
Hardcover
]
Adam, Nabil R. / Gangopadhyay, Aryya
Springer
10
%
167,040
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