실험1. 실험의 기초지식

실험2. 기본실험기구 사용법

실험3. 저항회로 구성과 오옴의 법칙

실험4. 키르히호프의 법칙

실험5. 저항계의 원리와 사용법

실험6. 분류기, 배율기

실험7. 중첩의 원리

실험8. 테브난, 노오튼의 정리

실험9. 최대 전력전달 조건

실험10. 휘스톤 브리지

실험11. 오실로스코프의 원리와 사용법

실험12. R-L, R-C 직 ? 병렬회로

실험13. R-L-C 직 ? 병렬 공진회로

실험14. 접합 다이오드의 특성

실험15. 제너다이오드의 특성

실험16. 광소자의 특성

실험17. Diode 반파?전파 및 브리지 정류

실험18. 배전압 정류회로 및 여파기

실험19. Diode 클리퍼와 클램프

실험20. J-FET의 특성

실험21. BJT의 특성 및 Bias

실험22. CE구성의 특성곡선 및 β측정

실험23. 트랜지스터 증폭기의 부하선 해석

실험24. 비안정 멀티바이브레이터

실험25. 톱니파 발생기

실험26. 이상발진기

실험27. 슈미트 트리거 회로

실험28. SCR(Silicon Controlled Rectifier)

실험29. UJT

실험30. 단상 및 3상 전력측정

실험31. OP AMP (Ⅰ)

실험32. OP AMP (Ⅱ)

실험33. OP AMP (Ⅲ)

실험34. 전압 레귤레이터

실험35. 혼합기, 변조기, 복조기

실험36. 555 타이머를 이용한 파형 발생기

실험37. 종합 실험

부록

1. 전자기기용 심벌

2. 반도체 제품의 형명 붙이는 법

3. 각종 반도체 극성 판별 및 부품체크

4. KTC 1815

5. OP앰프 IC

6. PM-741